中國分析測試協會
China Association for Instrumental Analysis

BCEIA 1985學術報告會特邀專家Michael L.Gross教授獲美國質譜年會(ASMS)John B.Fenn杰出貢獻獎

文章來源:中國分析測試協會
2020-04-10 19:12



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Michael L.Gross教授


  近日,ASMS美國質譜年會在其官網上公布了2020年各大獎項獲獎者,其中圣路易斯華盛頓大學化學、免疫學和內科學教授Michael L.Gross因在基于質譜分析技術的結構蛋白質組學研究方面創新性和綜合性成就而獲得John B.Fenn杰出貢獻獎。

  Michael L.Gross教授于1985年參加了第一屆北京分析測試學術報告會暨展覽會(BCEIA 1985),在質譜分會擔任主持人,當年質譜分會的主持人還包括中國質譜學會第一任理事長張青蓮院士、梁曉天院士、朱良漪教授等著名專家。

  關于John B.Fenn杰出貢獻獎:

  1984年,John B.Fenn發明了一種軟電離離子源,即電噴霧電離源(ESI),2002年他與日本島津公司田中耕一教授共同分享了當年的諾貝爾化學獎。John B.Fenn 1986年加入ASMS,直到2010年去世。ASMS為了紀念John B.Fenn,設立了John B.Fenn杰出貢獻獎,該獎項頒發10000美元現金及獎牌等。





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